Surface defects determining by the wave front scanner / Goloborodko N. S., Grygoruk V. I., Kurashov V. N., Podanchuk D. V., Goloborodko A. A., Kotov M. M. (2010)
UkrainianEnglish

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349127
  Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics       А - 2019  /     Випуск (2010, Vol. 13, № 1)

Goloborodko N. S., Grygoruk V. I., Kurashov V. N., Podanchuk D. V., Goloborodko A. A., Kotov M. M.
Surface defects determining by the wave front scanner

Cite:
Goloborodko, N. S., Grygoruk, V. I., Kurashov, V. N., Podanchuk, D. V., Goloborodko, A. A., Kotov, M. M. (2010). Surface defects determining by the wave front scanner. Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics , 13 (1), 65-69. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349127

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна