Metrological aspects of studying the specific contact resistivity of ohmic contacts by using the four-contact method / Sheremet V. N. (2014)
UkrainianEnglish

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000353052
  Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics       А - 2019  /     Випуск (2014, Vol. 17, № 4)

Sheremet V. N.
Metrological aspects of studying the specific contact resistivity of ohmic contacts by using the four-contact method

Cite:
Sheremet, V. N. (2014). Metrological aspects of studying the specific contact resistivity of ohmic contacts by using the four-contact method. Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics , 17 (4), 394-397. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000353052

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна