Методика определения глубины залегания дефектов в плоских элементах конструкций на основе электронной ширографии / Лобанов Л. М., Пивторак В. А., Кротенко П. Д. (2009)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000466676
  Техническая диагностика и неразрушающий контроль  Б - 2020  /     Випуск (2009, № 3)

Лобанов Л. М., Пивторак В. А., Кротенко П. Д.
Методика определения глубины залегания дефектов в плоских элементах конструкций на основе электронной ширографии

Бібліографічний опис:
Лобанов Л. М., Пивторак В. А., Кротенко П. Д. Методика определения глубины залегания дефектов в плоских элементах конструкций на основе электронной ширографии. Техническая диагностика и неразрушающий контроль. 2009. № 3. С. 5-10. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000466676

English  Technical diagnostics and non-destructive testing   /     Issue (2009, 3)

Lobanov L. M., Pivtorak V. A., Krotenko P. D.
Procedure of determination of the depth of defect location in plane structural elements based on electron shearography

Cite:
Lobanov, L. M., Pivtorak, V. A., Krotenko, P. D. (2009). Procedure of determination of the depth of defect location in plane structural elements based on electron shearography. Technical diagnostics and non-destructive testing, 3, 5-10. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000466676 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна