Application of Rutherford backscattering method for diffusion and phase formation studies in thin films of Sn – Cu system / Voloshko, S. M., Kotenko, I. Ye., Oleshkevych, A. I. (2013)
Ukrainian

web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000412231
  Metal Science and Treatment of Metals   Б - 2020  /     Issue (2013, № 2)

Волошко С. М., Котенко І. Є., Олешкевич А. І.
Використання методу Резерфордівського оберненого розсіяння для дослідження процесів дифузії та фазоутворення в тонкоплівковій системі Sn – Cu

Бібліографічний опис:
Волошко С. М., Котенко І. Є., Олешкевич А. І. Використання методу Резерфордівського оберненого розсіяння для дослідження процесів дифузії та фазоутворення в тонкоплівковій системі Sn – Cu . Металознавство та обробка металів. 2013. № 2. С. 53-58. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000412231

English  Metal Science and Treatment of Metals   /     Issue (2013, 2)

Voloshko S. M., Kotenko I. Ye., Oleshkevych A. I.
Application of Rutherford backscattering method for diffusion and phase formation studies in thin films of Sn – Cu system

Cite:
Voloshko, S. M., Kotenko, I. Ye., Oleshkevych, A. I. (2013). Application of Rutherford backscattering method for diffusion and phase formation studies in thin films of Sn – Cu system. Metal Science and Treatment of Metals, 2, 53-58. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000412231 [In Ukrainian].

 

Institute of Information Technologies of VNLU

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Ukraine, 03039, Kyiv, Holosiivskyi Ave, 3, room 209