Determination of adhesion strength of thin oxide coatings on dielectric materials by the method of atomic force microscopy / Bilokon, S. A., Bondarenko, M. A., Bondarenko, Ju. Ju. (2014)
web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000476017
Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies   А - 2020 /  Issue (2014, Т. 12, Вип. 2)
Билоконь С. А., Бондаренко М. А., Бондаренко Ю. Ю.
Определение адгезионной прочности тонких оксидных покрытий на диэлектрических материалах методом атомно-силовой микроскопии
Бібліографічний опис:
Билоконь С. А., Бондаренко М. А., Бондаренко Ю. Ю. Определение адгезионной прочности тонких оксидных покрытий на диэлектрических материалах методом атомно-силовой микроскопии. Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. 2014. Т. 12, Вип. 2. С. 295-302. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000476017 |  Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies / Issue (2014, 12 (2))
Bilokon S. A., Bondarenko M. A., Bondarenko Ju. Ju.
Determination of adhesion strength of thin oxide coatings on dielectric materials by the method of atomic force microscopy
Cite:
Bilokon, S. A., Bondarenko, M. A., Bondarenko, Ju. Ju. (2014). Determination of adhesion strength of thin oxide coatings on dielectric materials by the method of atomic force microscopy. Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies, 12 (2), 295-302. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000476017 [In Russian]. | |
|
|
PDF