Metling point lowering of Bi, In, Pb and Sn films embedded in Al matrix with their thickness reduction / Bogatirenko, S. I., Gladkikh, N. T., Krishtal, A. P. (2003)
web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000849885
Physical surface engineering /  Issue (2003, Т. 1, № 1)
Богатиренко С. И., Гладких Н. Т., Кришталь А. П.
Понижение температуры плавления с уменьшением толщины пленок Bi, In, Pb и Sn в Al матрице
Бібліографічний опис:
Богатиренко С. И., Гладких Н. Т., Кришталь А. П. Понижение температуры плавления с уменьшением толщины пленок Bi, In, Pb и Sn в Al матрице. Фізична інженерія поверхні. 2003. Т. 1, № 1. С. 82-88. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000849885 |  Physical surface engineering / Issue (2003, 1 (1))
Bogatirenko S. I., Gladkikh N. T., Krishtal A. P.
Metling point lowering of Bi, In, Pb and Sn films embedded in Al matrix with their thickness reduction
Cite:
Bogatirenko, S. I., Gladkikh, N. T., Krishtal, A. P. (2003). Metling point lowering of Bi, In, Pb and Sn films embedded in Al matrix with their thickness reduction. Physical surface engineering, 1 (1), 82-88. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000849885 [In Russian]. | |
|
|
PDF