До 30-річчя Лабораторії електронно-зондового аналізу Інституту проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича Національної Академії наук України / Васильєв О. Д., Фірстов С. О. (2013)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000086147
  Электронная микроскопия и прочность материалов. Сер. : Физическое материаловедение, структура и свойства материалов  В - 2014  /     Випуск (2013, Вип. 19)

Васильєв О. Д., Фірстов С. О.
До 30-річчя Лабораторії електронно-зондового аналізу Інституту проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича Національної Академії наук України

Бібліографічний опис:
Васильєв О. Д., Фірстов С. О. До 30-річчя Лабораторії електронно-зондового аналізу Інституту проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича Національної Академії наук України. Электронная микроскопия и прочность материалов. Сер. : Физическое материаловедение, структура и свойства материалов. 2013. Вип. 19. С. 3-6. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000086147

English  Electron Microscopy and Strength of Materials. Series: Physical Materials Science, Structure and Properties of Materials   /     Issue (2013, 19)

translit Transliteration

Vasyliev O. D., Firstov S. O.
Do 30-richchia Laboratorii elektronno-zondovoho analizu Instytutu problem materialoznavstva im. I. M. Frantsevycha Natsionalnoi Akademii nauk Ukrainy

Cite:
Vasyliev, O. D., Firstov, S. O. (2013). Do 30-richchia Laboratorii elektronno-zondovoho analizu Instytutu problem materialoznavstva im. I. M. Frantsevycha Natsionalnoi Akademii nauk Ukrainy. Electron Microscopy and Strength of Materials. Series: Physical Materials Science, Structure and Properties of Materials, 19, 3-6 http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000086147 [In Ukrainian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна