Анализ структуры поля и обоснование напряжений диагностики по частичным разрядам изоляции экранированных витых пар / Беспрозванных А. В., Кессаев А. Г. (2014)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна