X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures / Kladko V. P., Kuchuk A. V., Safryuk N. V., Machulin V. F., Belyaev A. E., Konakova R. V., Yavich B. S. (2010)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна