Методы определения высоты барьера шоттки из вольт-амперных характеристик (обзор) / Кудрик Я. Я., Шинкаренко В. В., Слепокуров В. С., Бигун Р. И., Кудрик Р. Я. (2014)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000363502
  Оптоэлектроника и полупроводниковая техника  Б - 2020  /     Випуск (2014, Вып. 49)

Кудрик Я. Я., Шинкаренко В. В., Слепокуров В. С., Бигун Р. И., Кудрик Р. Я.
Методы определения высоты барьера шоттки из вольт-амперных характеристик (обзор)

Бібліографічний опис:
Кудрик Я. Я., Шинкаренко В. В., Слепокуров В. С., Бигун Р. И., Кудрик Р. Я. Методы определения высоты барьера шоттки из вольт-амперных характеристик (обзор). Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. 2014. Вып. 49. С. 21-30. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000363502

English  Optoelectronics and Semiconductor Technique   /     Issue (2014, 49)

Kudrik Ja. Ja., Shinkarenko V. V., Slepokurov V. S., Bigun R. I., Kudrik R. Ja.
Methods for deter-mination of schottky barrier height from I-V curves (review)

Cite:
Kudrik, Ja. Ja., Shinkarenko, V. V., Slepokurov, V. S., Bigun, R. I., Kudrik, R. Ja. (2014). Methods for deter-mination of schottky barrier height from I-V curves (review). Optoelectronics and Semiconductor Technique, 49, 21-30. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000363502 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна