Аналіз поверхні наночастинок методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії / Лопатько К. Г., Афтанділянц Є. Г., Зауличний Я. В., Карпець М. В. (2009)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000411345
  Металознавство та обробка металів   Б - 2020  /     Випуск (2009, № 4)

Лопатько К. Г., Афтанділянц Є. Г., Зауличний Я. В., Карпець М. В.
Аналіз поверхні наночастинок методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії

Бібліографічний опис:
Лопатько К. Г., Афтанділянц Є. Г., Зауличний Я. В., Карпець М. В. Аналіз поверхні наночастинок методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії. Металознавство та обробка металів. 2009. № 4. С. 46-50. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000411345

English  Metal Science and Treatment of Metals   /     Issue (2009, 4)

Lopatko K. H., Aftandiliants Ye. H., Zaulychnyi Ya. V., Karpets M. V.
The analysis of a nanoparticles surface by X - ray photoelectronic spectroscopy

Cite:
Lopatko, K. H., Aftandiliants, Ye. H., Zaulychnyi, Ya. V., Karpets, M. V. (2009). The analysis of a nanoparticles surface by X - ray photoelectronic spectroscopy. Metal Science and Treatment of Metals, 4, 46-50. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000411345 [In Ukrainian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна