Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент / Лизунов В. В., Кочелаб Е. В., Скакунова Е. С., Лень Е. Г., Молодкин В. Б., Олиховский С. И., Толмачёв Н. Г., Шелудченко Б. В., Лизунова С. В., Скапа Л. Н. (2015)
інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000454339
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології   А - 2020 /  Випуск (2015, Т. 13, Вип. 2)
Лизунов В. В., Кочелаб Е. В., Скакунова Е. С., Лень Е. Г., Молодкин В. Б., Олиховский С. И., Толмачёв Н. Г., Шелудченко Б. В., Лизунова С. В., Скапа Л. Н.
Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент
Бібліографічний опис:
Лизунов В. В., Кочелаб Е. В., Скакунова Е. С., Лень Е. Г., Молодкин В. Б., Олиховский С. И., Толмачёв Н. Г., Шелудченко Б. В., Лизунова С. В., Скапа Л. Н. Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент. Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. 2015. Т. 13, Вип. 2. С. 349-370. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000454339 |  Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies / Issue (2015, 13 (2))
Lizunov V. V., Kochelab E. V., Skakunova E. S., Len E. G., Molodkin V. B., Olikhovskij S. I., Tolmachjov N. G., Sheludchenko B. V., Lizunova S. V., Skapa L. N.
The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. II. Numerical experiment
Cite:
Lizunov, V. V., Kochelab, E. V., Skakunova, E. S., Len, E. G., Molodkin, V. B., Olikhovskij, S. I., Tolmachjov, N. G., Sheludchenko, B. V., Lizunova, S. V., Skapa, L. N. (2015). The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. II. Numerical experiment. Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies, 13 (2), 349-370. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000454339 [In Russian]. | |
|
|
PDF