Диагностика полупроводниковых структур при разработке и производстве изделий микроэлектроники / Буйко Л. Д., Пономарь В. Н., Солонинко А. А. (2002)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000455302
  Технология и конструирование в электронной аппаратуре   Б - 2020  /     Випуск (2002, № 1)

Буйко Л. Д., Пономарь В. Н., Солонинко А. А.
Диагностика полупроводниковых структур при разработке и производстве изделий микроэлектроники

Бібліографічний опис:
Буйко Л. Д., Пономарь В. Н., Солонинко А. А. Диагностика полупроводниковых структур при разработке и производстве изделий микроэлектроники. Технология и конструирование в электронной аппаратуре. 2002. № 1. С. 40-42. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000455302

English  Technology and design in electronic equipment   /     Issue (2002, 1)

Bujko L. D., Ponomar V. N., Soloninko A. A.
The diagnostics of semiconductor structures at development and manufacturing products

Cite:
Bujko, L. D., Ponomar, V. N., Soloninko, A. A. (2002). The diagnostics of semiconductor structures at development and manufacturing products. Technology and design in electronic equipment, 1, 40-42. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000455302 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна