Метод многопараметровых вихретоковых измерений толщины, электропроводности материала и толщины диэлектрического покрытия элементов конструкций / Тетерко А. Я., Гутник В. И., Луценко Г. Г., Тетерко А. А. (2014)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000468804
  Техническая диагностика и неразрушающий контроль  Б - 2020  /     Випуск (2014, № 3)

Тетерко А. Я., Гутник В. И., Луценко Г. Г., Тетерко А. А.
Метод многопараметровых вихретоковых измерений толщины, электропроводности материала и толщины диэлектрического покрытия элементов конструкций

Бібліографічний опис:
Тетерко А. Я., Гутник В. И., Луценко Г. Г., Тетерко А. А. Метод многопараметровых вихретоковых измерений толщины, электропроводности материала и толщины диэлектрического покрытия элементов конструкций. Техническая диагностика и неразрушающий контроль. 2014. № 3. С. 55-60. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000468804

English  Technical diagnostics and non-destructive testing   /     Issue (2014, 3)

Teterko A. Ja., Gutnik V. I., Lutsenko G. G., Teterko A. A.
Method of multiparametral eddy current measurements of thickness, electric conductivity of material and thickness of dielectric coating of structural elements

Cite:
Teterko, A. Ja., Gutnik, V. I., Lutsenko, G. G., Teterko, A. A. (2014). Method of multiparametral eddy current measurements of thickness, electric conductivity of material and thickness of dielectric coating of structural elements. Technical diagnostics and non-destructive testing, 3, 55-60. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000468804 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна