Определение размеров полупроводниковых квантовых точек новым оптическим методом / Покутний С. И., Жабенко А. С., Манило К. Ю. (2012)
інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000474746
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології   А - 2020 /  Випуск (2012, Т. 10, Вип. 1)
Покутний С. И., Жабенко А. С., Манило К. Ю.
Определение размеров полупроводниковых квантовых точек новым оптическим методом
Бібліографічний опис:
Покутний С. И., Жабенко А. С., Манило К. Ю. Определение размеров полупроводниковых квантовых точек новым оптическим методом. Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. 2012. Т. 10, Вип. 1. С. 95-98. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000474746 |  Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies / Issue (2012, 10 (1))
Pokutnij S. I., Zhabenko A. S., Manilo K. Ju.
Determination of semiconductor quantum point sizes by new optical method
Cite:
Pokutnij, S. I., Zhabenko, A. S., Manilo, K. Ju. (2012). Determination of semiconductor quantum point sizes by new optical method. Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies, 10 (1), 95-98. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000474746 [In Russian]. | |
|
|
PDF