Основы многопараметрической диагностики с использованием деформационных зависимостей полной интегральной интенсивности динамической дифракции / Лизунов В. В., Бровчук С. М., Низкова А. И., Молодкин В. Б., Лизунова С. В., Шелудченко Б. В., Гранкина А. И., Рудницкая И. И., Дмитриев С. В., Толмачев Н. Г. (2014)
Ukrainian

English   Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies   /     Issue (2014, 12 (3))

Lizunov V. V., Brovchuk S. M., Nizkova A. I., Molodkin V. B., Lizunova S. V., Sheludchenko B. V., Grankina A. I., Rudnitskaja I. I., Dmitriev S. V., Tolmachev N. G.
Fundamentals of multiparameter diagnostics using deformation dependences of total integral intensity of dynamical diffraction


Cite:
Lizunov, V. V., Brovchuk, S. M., Nizkova, A. I., Molodkin, V. B., Lizunova, S. V., Sheludchenko, B. V., Grankina, A. I., Rudnitskaja, I. I., Dmitriev, S. V., Tolmachev, N. G. (2014). Fundamentals of multiparameter diagnostics using deformation dependences of total integral intensity of dynamical diffraction. Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies, 12 (3), 565-584. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000476143 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна