Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза / Лысенко О. Г., Грушко В. И., Ткач В. Н., Мицкевич Е. И. (2013)
Ukrainian

English  Superhard Materials   /     Issue (2013, 2)

Lysenko O. G., Grushko V. I., Tkach V. N., Mitskevich E. I.
Assessment of the resolution of scanning tunneling microscope with a tip of a boron-doped diamond


Cite:
Lysenko, O. G., Grushko, V. I., Tkach, V. N., Mitskevich, E. I. (2013). Assessment of the resolution of scanning tunneling microscope with a tip of a boron-doped diamond. Superhard Materials, 2, 65-74. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000695842 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна