Использование сканирующего туннельного микроскопа с алмазным острием для исследования структурных особенностей ta-C-пленки / Цысарь М. А. (2012)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000696671
  Сверхтвердые материалы      А - 2019  /     Випуск (2012, № 3)

Цысарь М. А.
Использование сканирующего туннельного микроскопа с алмазным острием для исследования структурных особенностей ta-C-пленки

Бібліографічний опис:
Цысарь М. А.  Использование сканирующего туннельного микроскопа с алмазным острием для исследования структурных особенностей ta-C-пленки. Сверхтвердые материалы. 2012. № 3. С. 52-61. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000696671

English  Superhard Materials   /     Issue (2012, 3)

Tsysar M. A.
The use of scanning tunnel microscope with a diamond tip to study structural features of ta-C films

Cite:
Tsysar, M. A. (2012). The use of scanning tunnel microscope with a diamond tip to study structural features of ta-C films. Superhard Materials, 3, 52-61. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000696671 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна