Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием / Цысарь М. А. (2012)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000696683
  Сверхтвердые материалы      А - 2019  /     Випуск (2012, № 4)

Цысарь М. А.
Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием

Бібліографічний опис:
Цысарь М. А.  Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием. Сверхтвердые материалы. 2012. № 4. С. 56-66. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000696683

English  Superhard Materials   /     Issue (2012, 4)

Tsysar M. A.
Studies of topological features of the surface of HFCVD nanocrys-talline diamond film using a scanning tunneling microscope with a diamond tip

Cite:
Tsysar, M. A. (2012). Studies of topological features of the surface of HFCVD nanocrys-talline diamond film using a scanning tunneling microscope with a diamond tip. Superhard Materials, 4, 56-66. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000696683 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна