Thermal annealing and evolution of defects in neutron-irradiated cubic SiC / Bratus' V. Ya., Melnyk R. S., Shanina B. D., Okulov S. M. (2015)
UkrainianEnglish

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000714331
  Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics       А - 2019  /     Випуск (2015, Vol. 18, № 4)

Bratus' V. Ya., Melnyk R. S., Shanina B. D., Okulov S. M.
Thermal annealing and evolution of defects in neutron-irradiated cubic SiC

Cite:
Bratus, V. Ya., Melnyk, R. S., Shanina, B. D., Okulov, S. M. (2015). Thermal annealing and evolution of defects in neutron-irradiated cubic SiC. Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics , 18 (4), 403-409. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000714331

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна