Phenomenological model of athermal interaction of microwave radiation with the structures wide-gap semiconductor – oxide film / Okhrimenko O. B. (2015)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна