Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 × 8) nanostructured surface / Goriachko A., Kulyk S. P., Melnik P. V., Nakhodkin M. G. (2015)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна