Influence of deep-level impurities on the strain electric properties of monocrystalline silicon / Zainabidinov S., Mamatkarimov O. O., Khimmatkulov O., Tursunov I. G. (2017)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна