Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза|14|аннулена / Удовицкий В. Г. (2003)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000849718
  Фізична інженерія поверхні   /     Випуск (2003, Т. 1, № 3-4)

Удовицкий В. Г.
Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза|14|аннулена

Бібліографічний опис:
Удовицкий В. Г.  Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза|14|аннулена. Фізична інженерія поверхні. 2003. Т. 1, № 3-4. С. 310-315. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000849718

English  Physical surface engineering   /     Issue (2003, 1 (3-4))

Udovitskij V. G.
X-ray investigation of dibenzotetraaza|14|annulene thin films crystal structure

Cite:
Udovitskij, V. G. (2003). X-ray investigation of dibenzotetraaza|14|annulene thin films crystal structure. Physical surface engineering, 1 (3-4), 310-315. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000849718 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна