Structural characterization and thickness profile of pulsed laser-deposited KY3F10: Ho3+ thin films / Gemechu N., Abebe T. (2018)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна