Homogeneity estimation morphometric model for particle distribution on example of SiC deposited on multilayer structure Fe/NiP / Komenda T., Korovytskyy A., Misyuk S. (2012)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна