Влияние примесей и структурных дефектов на электрофизические и детекторные свойства CdTe и CdZnTe / Кондрик А. И., Ковтун Г. П. (2019)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001083000
  Технология и конструирование в электронной аппаратуре   Б - 2020  /     Випуск (2019, № 5-6)

Кондрик А. И., Ковтун Г. П.
Влияние примесей и структурных дефектов на электрофизические и детекторные свойства CdTe и CdZnTe

Бібліографічний опис:
Кондрик А. И., Ковтун Г. П. Влияние примесей и структурных дефектов на электрофизические и детекторные свойства CdTe и CdZnTe. Технология и конструирование в электронной аппаратуре. 2019. № 5-6. С. 43-50. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001083000

English  Technology and design in electronic equipment   /     Issue (2019, 5-6)

Kondrik A. I., Kovtun G. P.
Influence of impurities and structural defects on electrophysical and detector properties of CdTe and CdZnTe

Cite:
Kondrik, A. I., Kovtun, G. P. (2019). Influence of impurities and structural defects on electrophysical and detector properties of CdTe and CdZnTe. Technology and design in electronic equipment, 5-6, 43-50. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001083000 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна