SANS и рентгеновские исследования структурных переходов в образцах примесь-гелиевых гелей / Ефимов В. Б., Межов-Деглин Л. П., Рыбченко О. Г. (2020)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001122538
  Фізика низьких температур      А - 2019  /     Випуск (2020, Т. 46, Вип. 2)

Ефимов В. Б., Межов-Деглин Л. П., Рыбченко О. Г.
SANS и рентгеновские исследования структурных переходов в образцах примесь-гелиевых гелей

Бібліографічний опис:
Ефимов В. Б., Межов-Деглин Л. П., Рыбченко О. Г. SANS и рентгеновские исследования структурных переходов в образцах примесь-гелиевых гелей. Фізика низьких температур. 2020. Т. 46, Вип. 2. С. 155-163. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001122538

English  Low Temperature Physics   /     Issue (2020, 46 (2))

Efimov V. B., Mezhov-Deglin L. P., Rybchenko O. G.
SANS and x-ray studies of structural transitions in impurity-helium gel samples

Cite:
Efimov, V. B., Mezhov-Deglin, L. P., Rybchenko, O. G. (2020). SANS and x-ray studies of structural transitions in impurity-helium gel samples. Low Temperature Physics, 46 (2), 155-163. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001122538 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна