Критическая плотность дислокаций при их перестройке в полигонизационные стенки / Борисовская К. М., Подрезов Ю. Н., Фирстов С. А. (2019)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001134393
  Электронная микроскопия и прочность материалов. Серия : Физическое материаловедение, структура и свойства материалов  В - 2014  /     Випуск (2019, Вып. 25)

Борисовская К. М., Подрезов Ю. Н., Фирстов С. А.
Критическая плотность дислокаций при их перестройке в полигонизационные стенки

Бібліографічний опис:
Борисовская К. М., Подрезов Ю. Н., Фирстов С. А. Критическая плотность дислокаций при их перестройке в полигонизационные стенки. Электронная микроскопия и прочность материалов. Серия : Физическое материаловедение, структура и свойства материалов. 2019. Вып. 25. С. 3-7. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001134393

English  Electron Microscopy and Strength of Materials. Series: Physical Materials Science, Structure and Properties of Materials   /     Issue (2019, 25)

translit Transliteration

Borisovskaja K. M., Podrezov Ju. N., Firstov S. A.
Kriticheskaja plotnost dislokatsij pri ikh perestrojke v poligonizatsionnye stenki

Cite:
Borisovskaja, K. M., Podrezov, Ju. N., Firstov, S. A. (2019). Kriticheskaja plotnost dislokatsij pri ikh perestrojke v poligonizatsionnye stenki. Electron Microscopy and Strength of Materials. Series: Physical Materials Science, Structure and Properties of Materials, 25, 3-7 http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001134393 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна