Efficient increasing of the mutation score during model-based test suite generation / Kolchin A., Potienko S., Weigert T. (2020)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна