Деградация контакта шоттки при термическом отжиге / Венгер Е. Ф., Готовы И., Шеховцов Л. В. (2012)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001287281
  Оптоэлектроника и полупроводниковая техника  Б - 2020  /     Випуск (2012, Вып. 47)

Венгер Е. Ф., Готовы И., Шеховцов Л. В.
Деградация контакта шоттки при термическом отжиге

Бібліографічний опис:
Венгер Е. Ф., Готовы И., Шеховцов Л. В. Деградация контакта шоттки при термическом отжиге. Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. 2012. Вып. 47. С. 77-83. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001287281

English  Optoelectronics and Semiconductor Technique   /     Issue (2012, 47)

Venger E. F., Gotovy I., Shekhovtsov L. V.
Schottky contact degradation at thermal annealing

Cite:
Venger, E. F., Gotovy, I., Shekhovtsov, L. V. (2012). Schottky contact degradation at thermal annealing. Optoelectronics and Semiconductor Technique, 47, 77-83. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001287281 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна