Carrier decay lifetimes in the narrow-gap Hg1 – xCdxTe at the interband and intraband excitations / Staryi S., Lysjuk I., Golenkov O., Tsybrii Z., Danilov S., Gumenjuk-Sichevska J., Andrieieva K., Smolii M., Sizov F. (2023)
інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001449505
Ukrainian journal of physics   А - 2018 /  Випуск (2023, Vol. 68, № 8)
Staryi S., Lysjuk I., Golenkov O., Tsybrii Z., Danilov S., Gumenjuk-Sichevska J., Andrieieva K., Smolii M., Sizov F.
Carrier decay lifetimes in the narrow-gap Hg1 – xCdxTe at the interband and intraband excitations
Бібліографічний опис:
Staryi S., Lysjuk I., Golenkov O., Tsybrii Z., Danilov S., Gumenjuk-Sichevska J., Andrieieva K., Smolii M., Sizov F. Carrier decay lifetimes in the narrow-gap Hg1 – xCdxTe at the interband and intraband excitations. Ukrainian journal of physics. 2023. Vol. 68, № 8. С. 543-548. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001449505 | |
|
|
PDF