Carrier decay lifetimes in the narrow-gap Hg1 – xCdxTe at the interband and intraband excitations / Staryi S., Lysjuk I., Golenkov O., Tsybrii Z., Danilov S., Gumenjuk-Sichevska J., Andrieieva K., Smolii M., Sizov F. (2023)
інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001450382
Український фізичний журнал   А - 2018 /  Випуск (2023, Т. 68, № 8)
Staryi S., Lysjuk I., Golenkov O., Tsybrii Z., Danilov S., Gumenjuk-Sichevska J., Andrieieva K., Smolii M., Sizov F.
Carrier decay lifetimes in the narrow-gap Hg1 – xCdxTe at the interband and intraband excitations
Бібліографічний опис:
Staryi S., Lysjuk I., Golenkov O., Tsybrii Z., Danilov S., Gumenjuk-Sichevska J., Andrieieva K., Smolii M., Sizov F. Carrier decay lifetimes in the narrow-gap Hg1 – xCdxTe at the interband and intraband excitations. Український фізичний журнал. 2023. Т. 68, № 8. С. 545-550. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001450382 | |
|
|
PDF