Formation of Mn4Si7/Si(111), CrSi2/Si(111), and CoSi2/Si(111) thin film and evaluation of their optically direct and indirect band gaps / Dovranov K. T., Normuradov M. T., Davranov Kh. T., Bekpulatov I. R. (2024)
інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001470100
Український фізичний журнал   А - 2018 /  Випуск (2024, Т. 69, № 1)
Dovranov K. T., Normuradov M. T., Davranov Kh. T., Bekpulatov I. R.
Formation of Mn4Si7/Si(111), CrSi2/Si(111), and CoSi2/Si(111) thin film and evaluation of their optically direct and indirect band gaps
Cite:
Dovranov, K. T., Normuradov, M. T., Davranov, Kh. T., Bekpulatov, I. R. (2024). Ukrainian Journal of Physics, 69 (1), 20-25 http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001470100 | |
|
|
PDF