Класифікація мікро-дефектів поверхні на основі кластерного аналізу сигнатур сигналу сенсора дифузного відбивання світла / Джала Р. М., Івасів І. Б., Червінка Л. Є., Червінка О. О. (2024)
UkrainianEnglish

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001535033
  Відбір і обробка інформації  Б - 2020  /     Випуск (2024, Вип. 52)

Джала Р. М., Івасів І. Б., Червінка Л. Є., Червінка О. О.
Класифікація мікро-дефектів поверхні на основі кластерного аналізу сигнатур сигналу сенсора дифузного відбивання світла

Бібліографічний опис:
Джала Р. М., Івасів І. Б., Червінка Л. Є., Червінка О. О. Класифікація мікро-дефектів поверхні на основі кластерного аналізу сигнатур сигналу сенсора дифузного відбивання світла. Відбір і обробка інформації. 2024. Вип. 52. С. 55-60. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001535033

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна