Classification and characteristic of defects of deposited layers according to the international standard ISO 6520-1:2007 / Ryabtsev I. A., Rozert R., Turyk E., Ryabtsev I. I. (2017)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна