Дослідження динамічних ВАХ Si-фотодіодів в області малих струмів за допомогою комп’ютеризованого вимірювального комплексу / Кшевецький О. С., Добровольський Ю. Г., Дячук Р. Л. (2025)
UkrainianEnglish

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001593790
  Технологія та конструювання в електронній апаратурі   Б - 2020  /     Випуск (2025, № 1-2)

Кшевецький О. С., Добровольський Ю. Г., Дячук Р. Л.
Дослідження динамічних ВАХ Si-фотодіодів в області малих струмів за допомогою комп’ютеризованого вимірювального комплексу

Бібліографічний опис:
Кшевецький О. С., Добровольський Ю. Г., Дячук Р. Л. Дослідження динамічних ВАХ Si-фотодіодів в області малих струмів за допомогою комп’ютеризованого вимірювального комплексу. Технологія та конструювання в електронній апаратурі. 2025. № 1-2. С. 38-44. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001593790

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна