Assessment of changes in the texture of the silicon surface under the influence of a magnetic field and high-temperature plastic deformation using fractal analysis / Krit O. M., Shirinyan A. S., Marynchenko L. V., Nizhelska O. I. (2025)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна