Обґрунтування ядерної безпеки проектного завантаження активної зони підкритичної збірки з вольфрамовою мішенню / Карнаухов І. М., Зелінський А. Ю., Мициков А. О., Гладких П. І., Ганн В. В., Борц Б. В., Биков В. Т., Ушаков І. В. (2026)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна