The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. I. Theoretical model / Lizunov, V. V., Kochelab, E. V., Skakunova, E. S., Len, E. G., Molodkin, V. B., Olikhovskij, S. I., Tolmachjov, N. G., Sheludchenko, B. V., Lizunova, S. V., Skapa, L. N. (2015)
web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000454326
Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies   А - 2020 /  Issue (2015, Т. 13, Вип. 1)
Лизунов В. В., Кочелаб Е. В., Скакунова Е. С., Лень Е. Г., Молодкин В. Б., Олиховский С. И., Толмачёв Н. Г., Шелудченко Б. В., Лизунова С. В., Скапа Л. Н.
Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. I. Теоретическая модель
Бібліографічний опис:
Лизунов В. В., Кочелаб Е. В., Скакунова Е. С., Лень Е. Г., Молодкин В. Б., Олиховский С. И., Толмачёв Н. Г., Шелудченко Б. В., Лизунова С. В., Скапа Л. Н. Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. I. Теоретическая модель. Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. 2015. Т. 13, Вип. 1. С. 99-115. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000454326 |  Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies / Issue (2015, 13 (1))
Lizunov V. V., Kochelab E. V., Skakunova E. S., Len E. G., Molodkin V. B., Olikhovskij S. I., Tolmachjov N. G., Sheludchenko B. V., Lizunova S. V., Skapa L. N.
The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. I. Theoretical model
Cite:
Lizunov, V. V., Kochelab, E. V., Skakunova, E. S., Len, E. G., Molodkin, V. B., Olikhovskij, S. I., Tolmachjov, N. G., Sheludchenko, B. V., Lizunova, S. V., Skapa, L. N. (2015). The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. I. Theoretical model. Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies, 13 (1), 99-115. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000454326 [In Russian]. | |
|
|
PDF