IR spectroscopic study of thin ZnO films grown using the atomic layer deposition method / Venher, Ye. F., Melnychuk, L. Yu., Melnychuk, O. V., Semikina, T. V. (2016)
web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000674436
Ukrainian Journal of Physics   А - 2018 /  Issue (2016, Т. 61, № 12)
Венгер Є. Ф., Мельничук Л. Ю., Мельничук О. В., Семікіна Т. В.
Дослідження методами ІЧ-спектроскопії тонких плівок оксиду цинку, вирощених методом АПО
Бібліографічний опис:
Венгер Є. Ф., Мельничук Л. Ю., Мельничук О. В., Семікіна Т. В. Дослідження методами ІЧ-спектроскопії тонких плівок оксиду цинку, вирощених методом АПО. Український фізичний журнал. 2016. Т. 61, № 12. С. 1059-1066. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000674436 |  Ukrainian Journal of Physics / Issue (2016, 61 (12))
Venher Ye. F., Melnychuk L. Yu., Melnychuk O. V., Semikina T. V.
IR spectroscopic study of thin ZnO films grown using the atomic layer deposition method
Cite:
Venher, Ye. F., Melnychuk, L. Yu., Melnychuk, O. V., Semikina, T. V. (2016). IR spectroscopic study of thin ZnO films grown using the atomic layer deposition method. Ukrainian Journal of Physics, 61 (12), 1059-1066. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000674436 [In Ukrainian]. | |
|
|
PDF