Measurement of thicknesses of optically transparent layered structures by the spectral interferometry method / Lukin, K. A., Tatjanko, D. N., Pikh, A. B., Zemljanyj, O. V. (2017)
Ukrainian

web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000685034
  Radiophysics and Electronics   Б - 2020  /     Issue (2017, Т. 8(22), № 1)

Лукин К. А., Татьянко Д. Н., Пих А. Б., Земляный О. В.
Измерение толщин оптически прозрачных слоистых структур методом спектральной интерферометрии

Бібліографічний опис:
Лукин К. А., Татьянко Д. Н., Пих А. Б., Земляный О. В. Измерение толщин оптически прозрачных слоистых структур методом спектральной интерферометрии. Радиофизика и электроника. 2017. Т. 8(22), № 1. С. 77-85. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000685034

English  Radiophysics and Electronics   /     Issue (2017, 8(22) (1))

Lukin K. A., Tatjanko D. N., Pikh A. B., Zemljanyj O. V.
Measurement of thicknesses of optically transparent layered structures by the spectral interferometry method

Cite:
Lukin, K. A., Tatjanko, D. N., Pikh, A. B., Zemljanyj, O. V. (2017). Measurement of thicknesses of optically transparent layered structures by the spectral interferometry method. Radiophysics and Electronics, 8(22) (1), 77-85. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000685034 [In Russian].

 

Institute of Information Technologies of VNLU

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Ukraine, 03039, Kyiv, Holosiivskyi Ave, 3, room 209