X-ray mini testing technology based on solid plane-parallel detectors / Troitskij, V. A., Mikhajlov, S. R., Pastovenskij, R. O. (2017)
Ukrainian

web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000741507
  Technical diagnostics and non-destructive testing  Б - 2020  /     Issue (2017, № 1)

Троицкий В. А., Михайлов С. Р., Пастовенский Р. О.
Х-ray mini технология контроля на основе твердотельных плоскопанельных детекторов

Бібліографічний опис:
Троицкий В. А., Михайлов С. Р., Пастовенский Р. О. Х-ray mini технология контроля на основе твердотельных плоскопанельных детекторов. Техническая диагностика и неразрушающий контроль. 2017. № 1. С. 25-29. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000741507

English  Technical diagnostics and non-destructive testing   /     Issue (2017, 1)

Troitskij V. A., Mikhajlov S. R., Pastovenskij R. O.
X-ray mini testing technology based on solid plane-parallel detectors

Cite:
Troitskij, V. A., Mikhajlov, S. R., Pastovenskij, R. O. (2017). X-ray mini testing technology based on solid plane-parallel detectors. Technical diagnostics and non-destructive testing, 1, 25-29. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000741507 [In Russian].

 

Institute of Information Technologies of VNLU

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Ukraine, 03039, Kyiv, Holosiivskyi Ave, 3, room 209