Х-ray mini технология контроля на основе твердотельных плоскопанельных детекторов / Троицкий В. А., Михайлов С. Р., Пастовенский Р. О. (2017)
Ukrainian

English  Technical diagnostics and non-destructive testing   /     Issue (2017, 1)

Troitskij V. A., Mikhajlov S. R., Pastovenskij R. O.
X-ray mini testing technology based on solid plane-parallel detectors


Cite:
Troitskij, V. A., Mikhajlov, S. R., Pastovenskij, R. O. (2017). X-ray mini testing technology based on solid plane-parallel detectors. Technical diagnostics and non-destructive testing, 1, 25-29. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000741507 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна