Qubit method for deductive fault analysis of logic circuits / Khakhanov, V. I., Emeljanov, I. V., Ljubarskij, M. M., Chumachenko, S. V., Litvinova, E. I., Amer, T. B. (2017)
web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000827060
Electronic modeling Б - 2018 /  Issue (2017, Т. 39, № 6)
Хаханов В. И., Емельянов И. В., Любарский М. М., Чумаченко С. В., Литвинова Е. И., Амер Т. Б.
Кубитный метод дедуктивного анализа неисправностей для логических схем
Бібліографічний опис:
Хаханов В. И., Емельянов И. В., Любарский М. М., Чумаченко С. В., Литвинова Е. И., Амер Т. Б. Кубитный метод дедуктивного анализа неисправностей для логических схем. Электронное моделирование. 2017. Т. 39, № 6. С. 59-92. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000827060 |  Electronic modeling / Issue (2017, 39 (6))
Khakhanov V. I., Emeljanov I. V., Ljubarskij M. M., Chumachenko S. V., Litvinova E. I., Amer T. B.
Qubit method for deductive fault analysis of logic circuits
Cite:
Khakhanov, V. I., Emeljanov, I. V., Ljubarskij, M. M., Chumachenko, S. V., Litvinova, E. I., Amer, T. B. (2017). Qubit method for deductive fault analysis of logic circuits. Electronic modeling, 39 (6), 59-92. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000827060 [In Russian]. | |
|
|
PDF