Кубитный метод дедуктивного анализа неисправностей для логических схем / Хаханов В. И., Емельянов И. В., Любарский М. М., Чумаченко С. В., Литвинова Е. И., Амер Т. Б. (2017)
інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000827060
Электронное моделирование Б - 2018 /  Випуск (2017, Т. 39, № 6)
Хаханов В. И., Емельянов И. В., Любарский М. М., Чумаченко С. В., Литвинова Е. И., Амер Т. Б.
Кубитный метод дедуктивного анализа неисправностей для логических схем
Бібліографічний опис:
Хаханов В. И., Емельянов И. В., Любарский М. М., Чумаченко С. В., Литвинова Е. И., Амер Т. Б. Кубитный метод дедуктивного анализа неисправностей для логических схем. Электронное моделирование. 2017. Т. 39, № 6. С. 59-92. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000827060 |  Electronic modeling / Issue (2017, 39 (6))
Khakhanov V. I., Emeljanov I. V., Ljubarskij M. M., Chumachenko S. V., Litvinova E. I., Amer T. B.
Qubit method for deductive fault analysis of logic circuits
Cite:
Khakhanov, V. I., Emeljanov, I. V., Ljubarskij, M. M., Chumachenko, S. V., Litvinova, E. I., Amer, T. B. (2017). Qubit method for deductive fault analysis of logic circuits. Electronic modeling, 39 (6), 59-92. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000827060 [In Russian]. | |
|
|
PDF