Nhancement of structure and substructure analysis of W2B5-TiB2 quasi-binary nano-crystalline condensed and bulk materials with application of "new_profile" soft-ware for x-ray diffraction data treatment / Reshetnjak, M. V., Sobol, O. V. (2008)
web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000872890
Physical surface engineering /  Issue (2008, Т. 6, № 3-4)
Решетняк М. В., Соболь О. В.
Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-TiB2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных "new_profile"
Бібліографічний опис:
Решетняк М. В., Соболь О. В. Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-TiB2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных "new_profile". Фізична інженерія поверхні. 2008. Т. 6, № 3-4. С. 180-188. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000872890 |  Physical surface engineering / Issue (2008, 6 (3-4))
Reshetnjak M. V., Sobol O. V.
Nhancement of structure and substructure analysis of W2B5-TiB2 quasi-binary nano-crystalline condensed and bulk materials with application of "new_profile" soft-ware for x-ray diffraction data treatment
Cite:
Reshetnjak, M. V., Sobol, O. V. (2008). Nhancement of structure and substructure analysis of W2B5-TiB2 quasi-binary nano-crystalline condensed and bulk materials with application of "new_profile" soft-ware for x-ray diffraction data treatment. Physical surface engineering, 6 (3-4), 180-188. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000872890 [In Russian]. | |
|
|
PDF