Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-TiB2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных "new_profile" / Решетняк М. В., Соболь О. В. (2008)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000872890
  Фізична інженерія поверхні   /     Випуск (2008, Т. 6, № 3-4)

Решетняк М. В., Соболь О. В.
Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-TiB2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных "new_profile"

Бібліографічний опис:
Решетняк М. В., Соболь О. В. Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-TiB2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных "new_profile". Фізична інженерія поверхні. 2008. Т. 6, № 3-4. С. 180-188. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000872890

English  Physical surface engineering   /     Issue (2008, 6 (3-4))

Reshetnjak M. V., Sobol O. V.
Nhancement of structure and substructure analysis of W2B5-TiB2 quasi-binary nano-crystalline condensed and bulk materials with application of "new_profile" soft-ware for x-ray diffraction data treatment

Cite:
Reshetnjak, M. V., Sobol, O. V. (2008). Nhancement of structure and substructure analysis of W2B5-TiB2 quasi-binary nano-crystalline condensed and bulk materials with application of "new_profile" soft-ware for x-ray diffraction data treatment. Physical surface engineering, 6 (3-4), 180-188. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000872890 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна