Influence of surface and intergrain boundaries scattering mechanisms of current carriers in thin films based on tin telluride / Freik, D. M., Dzundza, B. S., Chaviak, I. I., Makovyshyn, V. I., Arseniuk, I. A. (2014)
web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001030978
Physical surface engineering /  Issue (2014, Т. 12, № 3)
Фреїк Д. М., Дзундза Б. С., Чав'як І. І., Маковишин В. І., Арсенюк І. А.
Вплив поверхні та міжзеренних меж на розсіювання носіїв струму у тонких плівках на основі станум телуриду
Бібліографічний опис:
Фреїк Д. М., Дзундза Б. С., Чав'як І. І., Маковишин В. І., Арсенюк І. А. Вплив поверхні та міжзеренних меж на розсіювання носіїв струму у тонких плівках на основі станум телуриду. Фізична інженерія поверхні. 2014. Т. 12, № 3. С. 405-411. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001030978 |  Physical surface engineering / Issue (2014, 12 (3))
Freik D. M., Dzundza B. S., Chaviak I. I., Makovyshyn V. I., Arseniuk I. A.
Influence of surface and intergrain boundaries scattering mechanisms of current carriers in thin films based on tin telluride
Cite:
Freik, D. M., Dzundza, B. S., Chaviak, I. I., Makovyshyn, V. I., Arseniuk, I. A. (2014). Influence of surface and intergrain boundaries scattering mechanisms of current carriers in thin films based on tin telluride. Physical surface engineering, 12 (3), 405-411. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001030978 [In Ukrainian]. | |
|
|
PDF