Вплив поверхні та міжзеренних меж на розсіювання носіїв струму у тонких плівках на основі станум телуриду / Фреїк Д. М., Дзундза Б. С., Чав'як І. І., Маковишин В. І., Арсенюк І. А. (2014)
інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001030978 Фізична інженерія поверхні / Випуск (2014, Т. 12, № 3)
Фреїк Д. М., Дзундза Б. С., Чав'як І. І., Маковишин В. І., Арсенюк І. А. Вплив поверхні та міжзеренних меж на розсіювання носіїв струму у тонких плівках на основі станум телуриду
Бібліографічний опис: Фреїк Д. М., Дзундза Б. С., Чав'як І. І., Маковишин В. І., Арсенюк І. А. Вплив поверхні та міжзеренних меж на розсіювання носіїв струму у тонких плівках на основі станум телуриду. Фізична інженерія поверхні. 2014. Т. 12, № 3. С. 405-411. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001030978 | Physical surface engineering / Issue (2014, 12 (3))
Freik D. M., Dzundza B. S., Chaviak I. I., Makovyshyn V. I., Arseniuk I. A. Influence of surface and intergrain boundaries scattering mechanisms of current carriers in thin films based on tin telluride
Cite: Freik, D. M., Dzundza, B. S., Chaviak, I. I., Makovyshyn, V. I., Arseniuk, I. A. (2014). Influence of surface and intergrain boundaries scattering mechanisms of current carriers in thin films based on tin telluride. Physical surface engineering, 12 (3), 405-411. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001030978 [In Ukrainian]. |
|
|