Вплив поверхні та міжзеренних меж на розсіювання носіїв струму у тонких плівках на основі станум телуриду / Фреїк Д. М., Дзундза Б. С., Чав'як І. І., Маковишин В. І., Арсенюк І. А. (2014)
Ukrainian

English  Physical surface engineering   /     Issue (2014, 12 (3))

Freik D. M., Dzundza B. S., Chaviak I. I., Makovyshyn V. I., Arseniuk I. A.
Influence of surface and intergrain boundaries scattering mechanisms of current carriers in thin films based on tin telluride


Cite:
Freik, D. M., Dzundza, B. S., Chaviak, I. I., Makovyshyn, V. I., Arseniuk, I. A. (2014). Influence of surface and intergrain boundaries scattering mechanisms of current carriers in thin films based on tin telluride. Physical surface engineering, 12 (3), 405-411. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001030978 [In Ukrainian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна